Работа в светлом и тѐмном поле.
Работа в режиме DIC
Диапазон увеличений: 25 – 1500
Фотокамера AxioCam MRc5: 5 Мп
Модули для автоматического определения размера зерна и содержания второй фазы и др.

Термо- и полевая эмиссия

​

Ускоряющее напряжение 0,2 – 30 кВ
Максимальное разрешение: 3 нм
Детекторы вторичных и обратнорассеянных электронов
Работа в низком вакууме
Максимальный размер образца 200х200х100 мм
Микроанализатор
EDS X-Act (Oxford Instruments):
Si-drift детектор 10 мм2
анализ элементов B – U
Разрешение по Mn K = 133 эВ
Функции картирования и определения хим. анализа вдоль линии.

Спектрометр дисперсий по длине волны INCA Wave 700 (5 кристаллов)
Микроанализ приблизительно в десять раз более чувствительный по сравнению с ЭДС
Анализ элементов-примесей (< 0.1 - <0.01%)
Спектральное разрешение от 2-3 до 50 эВ – на порядок лучше ЭДС
Разделение близко расположенных пиков
Точная идентификация пиков
Наилучшая чувствительность для анализа
легких элементов
Рентгеновское картирование с наилучшим отношением пик/фон
 

Система анализа дифракции отраженных электронов HKL 5 CHANNEL 5 EBSD
Индексирование фаз как с высокой, так и с низкой симметрией, анализ материалов с псевдосимметрией Гибкие и мощные программы анализа текстур с применением методов полюсных фигур, обратных полюсных фигур, функций распределения ориентации/дезориентации в пространстве Эйлера и др. для любых кристаллических материалов (все 11 групп Лауэ)
Модульный принцип построения – пользователь имеет возможность выбирать программные модули, необходимые для решения его специфических задач (идентификация фаз, картирование ориентации кристаллитов и распределения фаз, анализ текстур методами прямых и обратных полюсных фигур, анализ текстур с использованием моделирования в пространстве Эйлера и др.)
Широкий выбор баз данных кристаллографической информации (стандартная база данных – NIST - >10 000 фаз, дополнительно можно подключать базы ICSD, American Mineralogist и др. с общим числом фаз более 100 000)

- Ускоряющее напряжение 20-200 кВ;
- Разрешающая способность по точкам режим ПЭМ не хуже 0,27 нм;
- Разрешающая способность по линиям режим ПЭМ не хуже 0,14 нм

- Приставка энергодисперсионного химического анализа EDAX

Исследования порошков, монолитных материалов, в том числе магнитных.

Анализируемые материалы: твердые монолитные токопроводящие материалы на железной, медной, алюминиевой и титановой основах.
Размер образцов: от 15 до 70 мм, высота от 2 до 50 мм.
Диапазон измеряемых концентраций: 0,0001 - 50 %.
Погрешность измерений концентраций: менее 1,0 %.

Излучение- Cu (= 1,5406 ангстрем, возможность работы на ),
мощность трубки – 2,2 кВт, энергодисперсионный детектор Si(Li),
максимальный угол 2 = 164 градуса, - геометрия съемки. Есть возможность локального анализа области диаметром 1 мм.

тип Instron 3369

Производитель: «Instron» (Англия, собрана в США)

№ 3369К5552

год выпуска – 2008

Технические характеристики:

- Максимальное усилие растяжения – 50 кН;

- Скорость испытания от 0,005 до 500 мм/мин;

- Точность измерения нагрузки 0,5% от измеряемой величины;

- Видеоэкстензометр;

- Навесной датчик деформации;

Проведение испытаний на растяжение, сжатие, 3-х точечный изгиб;

тип Instron 300DX

Производитель: «Instron» (Англия)

№ 300DXK5623

год выпуска – 2008

Технические характеристики:

- максимальное усилие растяжения – 300 кН;

- точность измерения нагрузки 0,5% от измеряемой величины;

- максимальная скорость испытания 76 мм/мин;

 Проведение испытаний на растяжение, 3-х точечный изгиб.

​

тип Instron 8801

Производитель: «Instron» (Англия)

№ K5533

год выпуска – 2008

Технические характеристики:

- Максимальное усилие растяжения/сжатия – 100 кН;

- Максимальная нагрузка в динамическом режиме – 50 кН;

- Частота – 30 Гц;

- Контролируемая форма цикла;

- точность измерения нагрузки 0,4 % от измеряемой величины;

- максимальная скорость испытания 76 мм/мин;

Проведение испытаний на растяжение, усталостных испытаний, определение характеристик KIC и JIC

​

​

- максимальная энергия удара 300 Дж;
- скорость удара от 3,5 до 5 м/с;
- цифровая система отображения энергии удара;
Проведение испытаний при температурах от +20 до -70 градусов Цельсия.